叶面积指数测量仪是一款专为研究高层植物冠层而设计的科研工具。叶面积指数测量仪利用鱼眼镜头和CCD图像传感器捕捉植物冠层图像，并通过专业分析软件快速准确地获取叶面积指数、叶片平均倾角、散射辐射透过率等关键参数。叶面积指数测量仪能够直接测量不同高度的植物冠层，并生成群体内光透过率和叶面积指数的垂直分布图。此外，叶面积指数测量仪还配备USB接口，便于用户连接电脑实时查看和分析冠层图像，广泛应用于作物、植物群体冠层受光状况的测量分析以及农林业科研领域。
叶面积指数测量仪工作原理
叶面积指数测量仪基于冠层孔隙率与冠层结构的相关性原理，依据比尔定律——光线穿过介质时的减弱规律。在一系列关于植物冠层的假设前提下，采用半理论半经验的公式，通过测定冠层孔隙率来计算冠层结构参数。
叶面积指数测量仪测量指标
叶面积指数测量仪能够无损测量以下参数
叶面积指数
叶片平均倾角
散射辐射透过率
不同太阳高度角下的直射辐射透过率
不同太阳高度角下的消光系数
叶面积密度的方位分布
冠层内外的光合有效辐射(PAR)
叶面积指数测量仪核心功能
1、无损测量：无损测量植物叶面积指数、叶片平均倾角及冠层结构。
2、灵活测量：探头体积小巧，可装在测杠上，实现任意角度的植物冠层结构测量。
3、自动水平保持：摄像头能够自动保持水平，确保图像的准确性。
4、实时图像查看：通过USB接口连接电脑，实时查看冠层图像，并即时选取和保存所需图像。
5、外接电源：配备大容量锂电池，适合野外工作和长时间测量。
6、垂直分布图：测量冠层不同高度，生成群体内光透过率和叶面积指数的垂直分布图。
7、专用分析软件：配备专用植物分析软件，可选择所需图像区域进行分析，屏蔽不合理的冠层部分，提高测量数据的准确性。
